铝含量对铜镍电阻薄膜结构及电性能的影响

董显平;吴建生

航空材料学报 ›› 2001, Vol. 21 ›› Issue (2) : 34-38.

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航空材料学报 ›› 2001, Vol. 21 ›› Issue (2) : 34-38.
论文

铝含量对铜镍电阻薄膜结构及电性能的影响

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The influence of aluminum contents on the microstructures and electrical properties of CuNi resistive films

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